光束質量分析儀（DataRay）
DataRay - 光束質量分析儀
DataRay公司成立于1988年，專業生產領先的激光光束質量分析儀，可對激光光束的光斑大小，形狀和能量分布等參數進行全面的測試和分析，同時連接電腦軟件可顯示二維或三維的測試結果。DataRay生產兩個系列的光束質量分析儀：相機式光束質量分析儀（CCD式）和狹縫掃描式光束質量分析儀 ，全系列產品的波長測試范圍覆蓋了從190nm到16μm，適合眾多激光光束。
產品系列
1. 相機式光束質量分析儀
基于相機的光束分析系統使用超廣泛，它雖無法獲得超高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用是很好的選擇。此外，Dataray光束質量分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。
各種型號的相機通過選配轉接頭可以用于特定的波長范圍，詳見下表：
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詳細參數：
2. 狹縫掃描式光束質量分析儀
掃描狹縫輪廓分析系統提供高分辨率，但是要求光束小于1μm且價格要高于相機型光束分析儀。盡管不能給出光束圖像，但是在很多情況下XY或XYZ輪廓就可以滿足應用要求。
DataRay生產兩種類型的掃描狹縫光束輪廓儀：
1. Beam R系列，可提供精確的光束輪廓。掃描狹縫光束輪廓儀有Si, Ge和InGaAs三種探測器，測量范圍可覆蓋波長從190nm到2500nm；
2. 專利BeamMap系列，BeamMap代表了一種完全不同的實時光束分析方法。 它通過允許沿光束行程的多個位置進行測量，擴展了Beam'R2的測量功能。 這種實時狹縫掃描系統在旋轉圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對，以同時測量四個不同z位置處的四個光束輪廓。 BeamMap2獨特的專利設計最適用于焦點位置，M2，光束發散和指向的實時測量。
詳細參數：
